摘要: 主要介绍了LED红光芯片的常规正装垂直结构,以Cr/Ti/Al结构作为金属P电极,在真空蒸镀过程中各层间的蒸镀源冷却时间对LED芯片性能的影响。通过实验Cr/Ti间、Ti/Al间不同蒸镀源冷却时间反映出,对于单层Cr/Ti间冷却时间缩短,或双层Cr/Ti间及Ti/Al间蒸镀源冷却时间缩短到一定时间内,均可以有效降低LED芯片在生产制备环节中的电压,而对亮度影响较小,说明层间界面电阻在一定程度上会受蒸镀源冷却时间的影响。
中图分类号:
郑宏. 真空蒸镀中蒸镀源冷却时间对LED芯片性能的影响[J]. 家电科技, 2020, 0(1): 70-73.
ZHENG Hong. Effect of cooling time of evaporation source on the performance of LED in vacuum evaporation[J]. Journal of Appliance Science & Technology, 2020, 0(1): 70-73.